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新品|德國(guó)ViALUX-實(shí)時(shí)PCIe接口DMD空間光調(diào)制器PCIe接口|實(shí)時(shí)流媒體顯示DMD空間光調(diào)制器/數(shù)字微鏡——紫外、可見光和紅外波段可選引言DLP（數(shù)字光處理）技術(shù)是一種MEMS空間光調(diào)制技術(shù)，其應(yīng)用范圍已經(jīng)遠(yuǎn)遠(yuǎn)超出了傳統(tǒng)的多媒體投影領(lǐng)域，在數(shù)字光編碼、光處理和工業(yè)領(lǐng)域具有廣泛應(yīng)用。德國(guó)ViALux公司提供了廣泛的DLP產(chǎn)品和解決方案，借助V-Module系列產(chǎn)品的高性能和高靈活性，在行業(yè)內(nèi)脫穎而出。V-Module家族以往的Hi-Speed和Superspeed系列...
查看全文多光譜相機(jī)作為一種成像技術(shù)設(shè)備，廣泛應(yīng)用于農(nóng)業(yè)、環(huán)境監(jiān)測(cè)、遙感測(cè)繪、工業(yè)檢測(cè)等領(lǐng)域。它能夠捕捉多個(gè)波段的光譜信息，為用戶提供比傳統(tǒng)相機(jī)更豐富的數(shù)據(jù)。本文將詳細(xì)介紹它的技術(shù)原理以及選型時(shí)需要考慮的關(guān)鍵因素，幫助用戶更好地選擇適合自身需求的設(shè)備。一、技術(shù)原理（一）光譜成像基礎(chǔ)光譜成像是一種通過(guò)捕捉物體在不同波長(zhǎng)下的反射或發(fā)射光來(lái)獲取其光譜信息的技術(shù)。多光譜相機(jī)通常能夠捕捉從可見光到近紅外波段的多個(gè)離散波段的光譜信息。這些波段的選擇是基于特定應(yīng)用的需求，例如，植被監(jiān)測(cè)通常會(huì)關(guān)注紅光...
查看全文膜厚測(cè)量?jī)x作為一種關(guān)鍵的分析工具，正發(fā)揮著越來(lái)越重要的作用。它憑借著測(cè)量原理和廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域，成為眾多行業(yè)的得力助手。下面，讓我們一同深入了解膜厚測(cè)量?jī)x的奧秘。測(cè)量原理的多樣性膜厚儀的測(cè)量原理豐富多樣，以滿足不同材料和場(chǎng)景的測(cè)量需求。磁感應(yīng)原理主要適用于磁性基體上的非磁性涂層，通過(guò)測(cè)量磁力線在磁性基體與涂層間的變化來(lái)確定膜厚；渦流原理則針對(duì)非磁性基體上的非導(dǎo)電涂層，利用高頻電流產(chǎn)生的渦流效應(yīng)來(lái)測(cè)量膜厚；還有光學(xué)干涉原理，利用光的干涉現(xiàn)象，通過(guò)分析干涉條紋的變化來(lái)精確測(cè)量薄膜厚...
查看全文昊量光電攜insion近紅外光譜儀參加第四屆小微型近紅外光譜儀研發(fā)與應(yīng)用交流會(huì)并做報(bào)告昊量光電攜INSION近紅外光譜儀參加第四屆小微型近紅外光譜儀研發(fā)與應(yīng)用交流會(huì)并做報(bào)告第四屆小微型近紅外光譜儀研發(fā)與應(yīng)用交流會(huì)在3月14到3月16日在常州市順利召開，這次會(huì)議地點(diǎn)選擇在南京大學(xué)未來(lái)創(chuàng)新研究院，由近紅外光譜技術(shù)服務(wù)平臺(tái)、武進(jìn)南京大學(xué)未來(lái)技術(shù)創(chuàng)新研究院、常州工學(xué)院、江蘇大學(xué)食品與生物工程學(xué)院主辦，北京中儀普眾技術(shù)咨詢有限公司承辦，近紅外光譜蘇滬工作站協(xié)辦。昊量光電攜insion微...
查看全文邀請(qǐng)函|昊量光電2025年慕尼黑上海光博會(huì)不見不散慕尼黑上海光博會(huì)于2025年3月11-13日在上海新國(guó)際博覽中心舉辦。屆時(shí)昊量光電將攜原廠展團(tuán)亮相光博會(huì)，共同展出多款前沿光電產(chǎn)品及技術(shù)解決方案，還特別增設(shè)云逛展的直播活動(dòng)，誠(chéng)邀新老客戶蒞臨E5館5426+5436洽談交流，或在線觀看直播哦！E5館5426+5436重磅新品昊量光電部分重磅新品搶先看！可掃碼預(yù)約試用或咨詢產(chǎn)品詳情！點(diǎn)擊圖片即可跳轉(zhuǎn)到產(chǎn)品詳情！應(yīng)用速遞本次展品豐富，涉及領(lǐng)域涵蓋生物顯微、半導(dǎo)體檢測(cè)、量子光學(xué)、激光...
查看全文膜厚測(cè)量?jī)x，又稱薄膜厚度測(cè)量?jī)x，是一種專門用于精密測(cè)量薄膜或涂層厚度的儀器。它基于光學(xué)干涉原理，通過(guò)光纖技術(shù)和干涉光譜分析技術(shù)，能夠非接觸、無(wú)損傷地測(cè)量透明涂層或薄膜的厚度。這種測(cè)量方式不僅避免了傳統(tǒng)機(jī)械接觸式測(cè)量可能帶來(lái)的損傷，還大大提高了測(cè)量的精度和效率。MProbe系列的工作原理相當(dāng)精妙。它發(fā)出不同波長(zhǎng)的光波穿透樣品膜層，膜的上下表面反射光被儀器接收。反射光相互之間的相位差會(huì)因薄膜的厚度和折射率不同而發(fā)生變化。儀器通過(guò)計(jì)算這些相位差，結(jié)合已知材料的光學(xué)參數(shù)，可以推導(dǎo)出薄...
查看全文特別是在納米與微米尺度上，膜厚的精準(zhǔn)控制對(duì)于提升材料性能、優(yōu)化制造工藝具有至關(guān)重要的作用。膜厚測(cè)量?jī)x的問(wèn)世，以其測(cè)量精度與廣泛的應(yīng)用范圍，實(shí)現(xiàn)了從實(shí)驗(yàn)室到生產(chǎn)線的無(wú)縫對(duì)接，為科研與生產(chǎn)的深度融合提供了強(qiáng)有力的技術(shù)支撐。膜厚測(cè)量?jī)x采用了一系列前沿技術(shù)，包括激光干涉、白光干涉、橢偏測(cè)量以及電子顯微鏡等，這些技術(shù)能夠在納米至微米的尺度上，對(duì)薄膜材料的厚度進(jìn)行高精度測(cè)量。相較于傳統(tǒng)的測(cè)量方法，膜厚儀不僅測(cè)量精度更高，而且測(cè)量速度更快，能夠在短時(shí)間內(nèi)提供大量可靠的測(cè)量數(shù)據(jù)，極大地提高了...
查看全文在現(xiàn)代科技領(lǐng)域，激光系統(tǒng)以其高精度、高效率的特點(diǎn)，在科研、工業(yè)、醫(yī)療等多個(gè)領(lǐng)域發(fā)揮著重要作用。而聲光調(diào)制器作為激光系統(tǒng)中的關(guān)鍵組件，其創(chuàng)新應(yīng)用不僅顯著提升了激光系統(tǒng)的性能，還進(jìn)一步提高了系統(tǒng)的精度和穩(wěn)定性。聲光調(diào)制器是一種利用聲光效應(yīng)實(shí)現(xiàn)光調(diào)制的器件。它通過(guò)調(diào)制信號(hào)在調(diào)制器中產(chǎn)生超聲波場(chǎng)，進(jìn)而改變器件的折射率，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)光相位的控制，達(dá)到調(diào)制激光束強(qiáng)度變化的目的。與傳統(tǒng)的電光調(diào)制器相比，聲光調(diào)制器具有消光比更高、驅(qū)動(dòng)功率更低、溫度穩(wěn)定性更優(yōu)、光點(diǎn)質(zhì)量更好等特點(diǎn)。在激光系統(tǒng)中，...
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